定制款高低溫測(cè)試箱  老化試驗(yàn)箱

適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件，在高溫、低溫或濕熱環(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)的檢驗(yàn)；

試驗(yàn)數(shù)據(jù)可通過U盤拷貝，電腦無(wú)需安裝任何軟件可直接打開試驗(yàn)曲線或Excel文檔；

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)周全:水電分離設(shè)計(jì)；溫度均勻性；

同溫層 設(shè)計(jì)，±1.0℃；防止試驗(yàn)頂部滴水；

報(bào)警履歷顯示以及故障解除方法。

定制款高低溫測(cè)試箱  老化試驗(yàn)箱

性能指標(biāo):    

1.溫度范圍: A:0℃～150℃，B:-20℃～150℃，C:-40℃～150℃，D:-60℃～150℃，E:-70℃～150℃

2.溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃

3.溫度均勻度：≤±2℃

4.范圍：20～98％R.H

5.偏差：±3%R.H

6.波動(dòng)：±2.5%R.H

7.精度范圍: 溫度：設(shè)定精度±0.1℃，指示精度±0.1℃，解析度±0.1℃；：設(shè)定精度±1％R.H，指示精度±1％R.H，解析度±1％R.H

5.升溫速率: 1.0～3.0℃/min

6.降溫速率: 0.7～1.0℃/min

控制系統(tǒng)

彩液晶觸摸顯示屏。
具有1000段程式、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段設(shè)定**值為99小時(shí)59分；10組程序鏈接功能。
控制器可存儲(chǔ)600天內(nèi)歷史數(shù)據(jù)(24小時(shí)運(yùn)行狀態(tài)下，記錄間隔1min以上，溫?cái)?shù)據(jù)同時(shí)記錄時(shí))，且可回放上傳的控制內(nèi)歷史數(shù)據(jù)曲線。
設(shè)備具有強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)視、控制網(wǎng)絡(luò)功能，即使您不在機(jī)器旁邊，也可以在電腦上對(duì)實(shí)時(shí)操作、監(jiān)控。
控制器面板標(biāo)配有10M/100M以太網(wǎng)絡(luò)接口，自動(dòng)獲取IP地址遠(yuǎn)程控制?？芍С謱?shí)時(shí)監(jiān)控、歷史曲線回放、程序編輯、FTP上傳下載、歷史故障查看、遠(yuǎn)程定值/程序控制等功能。
具有自動(dòng)演算的功能，可將溫變化條件立即修正，使溫控制更為精確穩(wěn)定。

注意事項(xiàng)
1.在操作當(dāng)中，除非有必要，請(qǐng)不要打開箱門，否則可能導(dǎo)致下列不良的后果。
•高溫氣流沖出箱外………………十分危險(xiǎn)
•箱門內(nèi)側(cè)仍然保持高溫…………造成燙傷
•高溫空氣可能觸發(fā)火災(zāi)報(bào)警，產(chǎn)生誤動(dòng)作
2.請(qǐng)注意本機(jī)必須安全確實(shí)接地，以免產(chǎn)生靜電感應(yīng)。
3.避免于三分鐘內(nèi)關(guān)閉再開啟冷凍機(jī)組。
4.如果箱內(nèi)放置發(fā)熱試品時(shí)，試品電源控制請(qǐng)使用外加電源，不要直接使用本機(jī)電源。放入高溫試料作低溫試驗(yàn)時(shí)應(yīng)注意：開啟箱門的時(shí)間要盡可能的短。
5.電路斷路器、超溫保護(hù)器，提供本機(jī)測(cè)試品以及操作者的安全保護(hù)，故請(qǐng)定期檢查。
6.禁止試驗(yàn)爆炸性，可燃性及高腐蝕性物質(zhì)。
7.照明燈除必要時(shí)打開外，其余時(shí)間應(yīng)關(guān)閉。
8.在做低溫前，應(yīng)將工作室擦干，60℃時(shí)烘干1小時(shí)。
9.做高溫試驗(yàn)時(shí)，當(dāng)溫度超過55℃以上的情況下，切忌不可開啟冷機(jī)。
10.在垂直于主導(dǎo)風(fēng)向的任何截面上，試驗(yàn)負(fù)載截面面積之和應(yīng)不大于該處工作截面的三分之一。
11.請(qǐng)?jiān)敿?xì)閱讀說明書，方可操作本機(jī)。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

濕熱試驗(yàn)箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93

(IEC68-2-30)